Nejmenší SWIR kamera XENICS XS-1.7-320 s připojením na USB

Jednoduchá kompaktní kamera XS-1.7-320 používá nechlazený detektor InGaAs s rozlišením 320 x 256 pixelů. K počítači se připojuje přes rozhraní USB. Kameru je možno dodat také s analogovým výstupem PAL nebo NTSC. Ve verzi s digitálním triggerovacím vstupem je možné dosáhnout snímací frekvence až 100 Hz.

SWIR kamera XS-1.7-320Nastavení kamery je uloženo v interní paměti, takže u verzí s analogovým výstupem je možná práce bez připojeného PC.

Senzor je citlivý v NIR/SWIR pásmu vlnových délek 900 - 1700 nm. Volitelně lze citlivost prodloužit do viditelné oblasti 400 - 1700 nm.

Hlavní přednosti kamery:

  • InGaAs senzor pro oblast SWIR
  • Bez termo elektrického chlazení, velmi nízká spotřeba
  • Kompaktní housing, vhodný pro zabudování
  • USB 2.0, PAL/NTSC

Parametry detektoru

Parametr  
Typ detektoru InGaAs
Spektrální rozsah 0.9 - 1.74 µm
Rozlišení 320 x 256
Rozteč mezi pixely 30 µm
Chlazení bez chlazení
Procento funkčních pixelů > 99 %

Parametry kamery

Kamera se vyrábí ve třech specifikacích: XS Analog (s analogovým výstupem), XS Trigger (s digitálním vstupem), XS Base (pouze USB):

Typ kamery XS Analog XS Trigger XS Base
Zobrazovací výkon
Frekvence snímání 50 Hz (PAL)
60 Hz (NTSC)
100 Hz 60 Hz
Expozice 1 µs - 20 ms
Úroveň šumu
Low Gain/High Gain
4 / 15 AD úrovní
SNR
Low Gain/High Gain
69 / 60 dB
Rozlišení A/D převodníku 14 bitů
Komunikace a I/O
Analogový výstup obrazu PAL nebo NTSC není není
Řízení kamery USB 2.0 USB 2.0 USB 2.0
Digitální výstup obrazu USB 2.0 USB 2.0 USB 2.0
Trigger I/O není TTL není
Ostatní parametry
Napájení 12 VDC, 4 W, napájecí zdroj je součástí dodávky
Teplota prostředí 0 - 50 °C
Rozměry 50 x 50 x 50 mm
Hmotnost kamery 225 g
Objektiv
Připojení objektivu C-mount
Objektiv (součástí dodávky) 16 mm / F1.4
Software
Software (součástí dodávky) X-control Extended
X-control SDK
X-control Advanced
X-control SDK
X-control Advanced
X-control SDK

Třídění odpadu pomocí hyperspektrálního zobrazeníAplikace

  • inspekce potravin
  • třídění odpadu
  • inspekce povrchu solárních článků
  • termální zobrazení horkých předmětů
  • real-time kontrola kvality výrobků v průběhu výroby
  • nedestruktivní testování
  • inspekce polovodičů
  • a mnoho dalších...
Inspekce vad solárních článkůZobrazení horkých předmětů - kontrola závadInspekce polovodičových vrstevZobrazení hladiny v nádrži/láhvi

Software

X-control Advanced

Základní ovládací program pro kamery XS. Poskytuje tyto možnosti ovládání kamery:

  • Nastavení parametrů kamery
  • Živý náhled z kamery
  • Ukládání záznamu z kamery i jednotlivých obrázků
  • Histogram
  • Čárové profily, bodová měření, časové profily
  • Barevné palety
  • a další

X-control SDK

Obsahuje API pro vývoj vlastních aplikací.

  • C++, Visual Basic, LabVIEW
  • Windows, Linux
  • Ukázkové příklady

 

Přejít do e-shopu Položit dotaz